서울과학기술대학교 LINC 3.0

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전체 72건

번호	분류	이미지	기기명	기기약어	상태
12	표면분석		집속이온빔(FIB) (Focused Ion Beam system) 기기약어FIB 상태정상	FIB	정상
11	재료		초음파 초가속 피로시험기 (Ultrasonic Fatigue Test System) 기기약어피로시험기 상태정상	피로시험기	정상
10	물성분석		촉매특성평가장치 (Catalyst Analyzer) 기기약어촉매특성평가장치 상태정상	촉매특성평가장치	정상
9	3D		쾌속조형시스템-CONNEX500-1 (Rapid Prototyping System(3D Printer)) 기기약어RP 상태정상	RP	정상
8	3D		쾌속조형시스템-CONNEX500-2 (Rapid Prototyping System(3D Printer)) 기기약어RP 상태수리	RP	수리
7	성분분석		텐덤 레이져어블레이션 립스 (Tandem Laser Ablation LIBS) 기기약어Tandem LA LIBS(J200) 상태정상	Tandem LA LIBS(J200)	정상
6	표면분석		투과전자현미경(Cs-STEM) (Transmission Electron Microscope(Cs-STEM)) 기기약어Cs-STEM 상태정상	Cs-STEM	정상
5	표면분석		투과전자현미경(Normal-TEM) (Transmission Electron Microscope(Normal-TEM)) 기기약어TEM 상태정상	TEM	정상
4	표면분석		퓨리에 변환 적외선 분광기 (FT-IR Spectrometer) 기기약어FT-IR 상태정상	FT-IR	정상
3	기타		플라즈마강화 원자층 증착장비 (Plasma Enhanced Atomic layer Deposition System) 기기약어Plasma ALD 상태정상	Plasma ALD	정상
2	3D		핸드헬드 스캐너 (HandHeld 3D Scanner) 기기약어HandHeld Scanner 상태정상	HandHeld Scanner	정상
1	표면분석		후방산란회절분석기 (Electron BackScatter Diffraction) 기기약어EBSD 상태정상	EBSD	정상