전체 66건
번호 | 분류 | 이미지 | 기기명 | 기기약어 | 상태 |
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18 | 표면분석 |
전계방사형주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope) 기기약어FE-SEM 상태정상 |
FE-SEM |
정상 |
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17 | 물성분석 |
점도측정장치 (Rheometer) 기기약어점도측정장치 상태정상 |
점도측정장치 |
정상 |
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16 | 물성분석 |
제타전위측정장치 (Zeta Potential Analyzers) 기기약어Zeta 상태정상 |
Zeta |
정상 |
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15 | 표면분석 |
주사전자현미경 (Scaning Electron Microscope) 기기약어SEM 상태정상 |
SEM |
정상 |
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14 | 표면분석 |
주사전자현미경2 (Scanning Electron Microscope 2) 기기약어SEM 2 상태정상 |
SEM 2 |
정상 |
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13 | 구조분석 |
주사탐침현미경 (Scaning Probe Microscope) 기기약어SPM(AFM) 상태수리 |
SPM(AFM) |
수리 |
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12 | 표면분석 |
집속이온빔(FIB) (Focused Ion Beam system) 기기약어FIB 상태정상 |
FIB |
정상 |
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11 | 재료 |
초음파 초가속 피로시험기 (Ultrasonic Fatigue Test System) 기기약어피로시험기 상태정상 |
피로시험기 |
정상 |
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10 | 물성분석 |
촉매특성평가장치 (Catalyst Analyzer) 기기약어촉매특성평가장치 상태정상 |
촉매특성평가장치 |
정상 |
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9 | 3D |
쾌속조형시스템-CONNEX500-1 (Rapid Prototyping System(3D Printer)) 기기약어RP 상태정상 |
RP |
정상 |
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8 | 3D |
쾌속조형시스템-CONNEX500-2 (Rapid Prototyping System(3D Printer)) 기기약어RP 상태수리 |
RP |
수리 |
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7 | 성분분석 |
텐덤 레이져어블레이션 립스 (Tandem Laser Ablation LIBS) 기기약어Tandem LA LIBS(J200) 상태정상 |
Tandem LA LIBS(J200) |
정상 |