전체 73건
번호 | 분류 | 이미지 | 기기명 | 기기약어 | 상태 |
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37 | 기타 | ![]() |
열원자층 증착장비 (Thermal Atomic layer Deposition System) 기기약어Thermal ALD 상태정상 |
Thermal ALD |
정상 |
36 | 물성분석 | ![]() |
열차별분석기 (Differential Scanning Calorimetry) 기기약어DSC 상태정상 |
DSC |
정상 |
35 | 성분분석 | ![]() |
원소분석기(CHONS) (Elemental Analyzer) 기기약어EA 상태정상 |
EA |
정상 |
34 | 성분분석 | ![]() |
원소분석기(MACRO) (MACRO ELEMENTS ANALYZER) 기기약어EA(Macro) 상태정상 |
EA(Macro) |
정상 |
33 | 성분분석 | ![]() |
원소분석기(MICRO) (MICRO ELEMENTS ANALYZER) 기기약어EA(Micro) 상태정상 |
EA(Micro) |
정상 |
32 | 구조분석 | ![]() |
원이색분광광도계 (Circular Dichroism Spectroscopy) 기기약어CD 상태정상 |
CD |
정상 |
31 | 기타 | ![]() |
웨이퍼급속열처리(진공오븐)시스템 (Rapid Thermal Annealing System) 기기약어RTA 상태정상 |
RTA |
정상 |
30 | 기타 | ![]() |
웨이퍼식각기시스템(마스크클리너, 습식) (Wet Station) 기기약어WETST 상태정상 |
WETST |
정상 |
29 | 표면분석 | ![]() |
위상변조타원분광기 (Ellipsometer) 기기약어엘립소미터 상태정상 |
엘립소미터 |
정상 |
28 | 성분분석 | ![]() |
유도결합플라즈마원자방출분광기 (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer) 기기약어ICP-AES or ICP- OES 상태정상 |
ICP-AES or ICP- OES |
정상 |
27 | 성분분석 | ![]() |
유도결합플라즈마질량분석기1 (Inductively Couples Plasma Mass Spectrometer) 기기약어ICP-MS 상태정상 |
ICP-MS |
정상 |
26 | 성분분석 | ![]() |
유도결합플라즈마질량분석기2 (Inductively Couples Plasma Mass Spectrometer) 기기약어ICP-MS 상태정상 |
ICP-MS |
정상 |